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无损检测系统:应用于MEMS、IC等半导体行业

商品原价:0元 优惠价格:0元 品牌:Ding-Tek 单位: 上架日期:11-06-15 20:01 人气:
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商品介绍
  

Ding-Tek NDI:无损检测系统

Nondestructive Inspection System

帮助确定首次失效的现象和位置

鼎曜科技有限公司(Ding-Tek Limited)

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提供失效分析的整体解决方案

 

无损检测系统用于MEMS和IC等微电子行业
无损检测系统:应用于MEMS、IC等半导体行业

    Ding-Tek NDI是一款操作简单的光学成像系统,拥有最高的光学性能和清洁度,同时该系统最大限度保证仪器安全并符合人体工程学,操作简便快捷,因此可以长时间专注操作而不生产疲劳。

    Ding-Tek NDI使用砷化铟镓高灵敏度红外照相机组成高性能的显微镜系统,为MEMS和IC等半导体行业提供一个新的设计理念。Ding-Tek NDI相机主要特点:波长范围从900nm到1700nm;图像分辨率可提高到640×512pixels。

 

无损检测系统的规格

1、探测器

    红外探测器,分辨率增强至640×480 pixels

    像素采集率:大于90%

    QE AT 1000nm大于50%

    强度分辨率:12位

2、近红外显微镜

    目镜:10倍

    近红外镜头:5倍,20倍,50倍

    可调式红外光源:最大100W

    焦距可调整范围:范围50毫米

    分辨率<5μm

3、定制样品夹具

    范围:200mm/300mm

    X/Y 分辨率:<5μm

4、防振屏

5、可选部件

    可选1 具备电动对焦模块的电动镜头更换器

    可选2 半自动样品台(200mm或300mm)

    可选3 晶圆柜

 

无损检测系统的功能

1、图像控制

2、尺寸测量

    * 对齐位移测量

    * 两点之间直线距离

    * 厚度测量(可选)

3、电动工作台控制(可选)

4、机械手控制(可选)

5、客户定制控制(可选)

 

联系我们

王先生

电子邮件:wangyi#micro-nano.com(#换成@)

QQ:860318601

手机:13913037742

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